缺陷类型及信号特征
缺陷类型及信号特征TOFD 检测可以发现的缺陷分为表面开口缺陷和埋藏缺陷两大类。其中表面开口缺陷可分为：
缺陷类型信号特征
上表面开口缺陷直通波传播出现延迟或者消失无上尖端衍射信号，只有下尖端衍射
下表面开口缺陷底面回波传播出现延迟或者消失无下尖端衍射信号，只有上尖端衍射
贯穿性缺陷所有信号缺失或减小（易与耦合不良的情况混淆）
埋藏缺陷可以分为：
缺陷类型信号特征
点状缺陷独立的衍射弧
没有自身高度的缺陷单个与上尖端衍射相同相位的衍射信号
有自身高度的缺陷同时具有上尖端和下尖端衍射信号
上述分类划分的依据是缺陷的位置和尺寸，并没有规定缺陷的性质。由于TOFD技术的局限性，根据目前的技术尚无法准确判定缺陷的性质，因此目前的技术和规范并没有要求对发现的缺陷进行定性。
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